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物联网产业盛会：IOTE深圳物联网展

IOTE深圳物联网展，定于2024年8月28日至30日在深圳国际会展中心（宝安新馆）盛大举行，预计将汇集超过600家全球领先的参展企业，吸引逾十万名来自工业、物流、基础设施建设、智慧城市、智慧零售等领域的专业集成商与终端用户。

新基建与内外双循环政策的推动，为物联网行业发展奠定了坚实基础，创造了广阔空间。万亿级别的市场潜力已然显现，物联网产业正迎来“黄金时期”。在此背景下，IOTE国际物联网展肩负重任，旨在聚集物联网全产业链资源，实现高效精准对接。

深圳市唐领科技有限公司，作为参展商之一，将携旗下创新产品盛装亮相，诚邀各界朋友莅临参观交流，共享物联网行业的盛宴。

展商概览

深圳市唐领科技有限公司专注于测试测量科技领域，致力于将全球领先的物联网、光通信、无线通信及高速信号测试测量仪器及器件引入中国市场，服务于广大工程师。在光通信领域，与MultiLane紧密合作；在物联网及无线通信领域，与CISC、MegiQ、Sequid及TranceSpan等卓越供应商携手，不断推陈出新，引领行业变革。

产品亮点

• RAIN Xplorer Inline在线标签测试系统：该系统是市场上测试速度最快的在线标签测量产品，以Fast Read EPC功能为特色，支持任意多频点灵敏度测试、写码、加密等功能。其技术指标覆盖800MHZ至1GHZ的频段，TX功率范围从1dBm到28dBm，灵敏度达到-80 dBm，提供包括读取EPC、TID和内存、写入存储器（编码）、测量标签在不同频率上的灵敏度在内的全方位测试服务，以及读取EPC单个测试点从6ms开始、线性测试时间变化等特性。

• RAIN Xplorer RFID综合测试仪：此款设备是市场上唯一能够同时测量标签及读写器性能、协议规范的综合测试工具，涵盖800MHz-1GHz（可扩展至700MHz-1.3GHz）的频率范围，支持标签性能、方向性及TIPP测试，可自动生成完整的G2V2协议规范性测试报告，支持读写器灵敏度测试，并拓展相位、阻抗VS灵敏度的测试，提供读写器协议规范性测试报告，满足ETSI EN 302 208标准要求。

• NFC Xplorer Inline在线NFC测试系统：专门设计用于生产过程中的NFC Inlay和标签高速品质保证测试，包括性能测试和编码。支持13.56 MHz性能测试（> 100k UPH），助力提升产品质量管理，实现全面品质保证，支持多种NFC标签类型及安全性、加密（SAM，TAM）等功能。

展商邀请

诚挚邀请各位行业同仁在2024年8月28-30日亲临IOTE第二十二届国际物联网展·深圳站，位于深圳国际会展中心（宝安新馆）的9号馆，唐领科技展位9B9，共赴这场行业盛会，共同探索合作机遇。期待您的莅临！

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